Micro-Epsilon
3D Oberflächeninspektion und Defekterkennung
Die ‚3D ReflectControl‘-Sensoren von Micro-Epsilon dienen der Oberflächeninspektion und Defekterkennung auf hochreflektierenden und transparenten Flächen.
Die Sensoren nutzen die phasenmessende Deflektometrie zur Analyse reflektierender Oberflächen. Hierbei wird ein Streifenmuster auf die Oberfläche projiziert und dessen Spiegelung von zwei Kameras erfasst. Aus den Aufnahmen berechnet der Sensor, der stationär eingebunden oder am Roboter über das Messobjekt geführt werden kann, eine 3D-Punktewolke der Oberflächenstruktur. Der ‚RCS130-160 3D HLP‘ von Micro-Epsilon ist speziell für Mess- und Inspektionsaufgaben in Produktionslinien optimiert und verfügt über eine GigE-Vision-Schnittstelle. Hierdurch liefert er die Daten GenICam-konform, was eine nahtlose Integration in bestehende Bildverarbeitungssysteme ermöglicht. Die hohe z-Auflösung im Nanometerbereich sowie die Wiederholpräzision von <1 µm sorgen für bis zu 5 Mio. 3D-Datenpunkte, die der Sensor ausgibt.
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