Messtechnik
Viele Prüflinge mit nur einem Gerät testen
National Instruments stellt mit der PXIe-4139 eine 'System Source Measure Unit' (System-SMU) vor, die Herstellerangaben zufolge die Gesamtkosten reduziert und die Markteinführungszeiten für Testingenieure in vielen Branchen beschleunigt – von der Halbleiter- über die Automobilindustrie bis zur Unterhaltungselektronik.
Das Messgerät besitzt eine erweiterte Impulsbereichsfunktion mit maximal 500 W und eine Messempfindlichkeit von maximal 100 fA. So lässt sich eine Reihe von Prüflingen mit nur einem einzigen Messgerät testen. Das Messgerät umfasst die Technologie 'NI Source-Adapt', dank derer Ingenieure das Regelverhalten der SMU an die zu prüfende Last anpassen können. Prüflinge werden dadurch geschützt und die Systemstabilität verbessert. Zusätzlich kann die System-SMU Messungen bei 1,8 MS/s durchführen und ist somit um den Faktor 100 schneller als traditionelle SMUs. Dies ermöglicht reduzierte Prüfzeiten; zudem können Ingenieure das Transientenverhalten des Geräts ohne zusätzliche Messgeräte wie zum Beispiel ein Oszilloskop erfassen.
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