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Control 2011, Ultraschallmikroskopie
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Die Qualität von High-Tech-Materialien, Halbleitern oder Photovoltaik-Modulen hängt von deren Strukturen im Mikro- und Nanometerbereich ab. Um in diesen Größenordnungen Qualität messbar zu machen, braucht es Verfahren wie die zerstörungsfreie Ultraschall-Mikroskopie.
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