National Instruments / NI Week 2016Bausteine der Smart World
Insgesamt 3100 Entwickler aus 58 Ländern pilgerten Anfang August 2016 wieder nach Austin/Texas - zur alljährlich zelebrierten NI Week von National Instruments.
© National Instruments
Wichtige Hard- und Software-Features für die Erstellung intelligenter Halbleiterprüfsysteme stellt das Digital-Pattern-Instrument zur Verfügung. Das PXI-Modul für den digitalen Test von Halbleiterbauelementen bietet Herstellern von RFICs, PMICs, MEMS-Bauelementen und Mixed-Signal-ICs eine Alternative zu den geschlossenen Architekturen herkömmlicher automatisierter Halbleiterprüfsysteme.