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Wichtige Hard- und Software-Features für die Erstellung intelligenter Halbleiterprüfsysteme stellt das Digital-Pattern-Instrument zur Verfügung. Das PXI-Modul für den digitalen Test von Halbleiterbauelementen bietet Herstellern von RFICs, PMICs, MEMS-Bauelementen und Mixed-Signal-ICs eine Alternative zu den geschlossenen Architekturen herkömmlicher automatisierter Halbleiterprüfsysteme.