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Mit den
konfokalen Wegsensoren von Micro-Epsilon lassen sich mehrschichtige transparente Materialien vermessen. Die Konfokal-chromatischen Sensoren mit Multi-Peak-Option der Reihe confocalDT können bis zu fünf Schichten durch Auswertung von sechs Messwerten an den jeweiligen Grenzflächen vermessen. Damit die Schichtdicke richtig bestimmt werden kann, werden im Controller die Brechungsindizes der jeweiligen Schicht aus einer Materialdatenbank eingeholt. Zusätzlich wird der Brechungsindex wellenlängenabhängig korrigiert. Die Dicken-Kalibrierung erfolgt in der Software des Controllers über drei Brechungswerte am Anfang, Ende und in der Mitte des Messbereichs. Anwendung finden die Sensoren z.B. in der Qualitätsprüfung und Prozesssteuerung in der Herstellung von Sicherheitsglas, Solarzellen, Flatscreens, Smartphone-Displays.
