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In den 90er-Jahren drohten die Aufwendungen für das Testen von Chips die Herstellungskosten zu übersteigen. Erfinder des Jahres Dr. Janusz Rajski (68) von Digital Factory hat ein Testverfahren entwickelt, das mittels Datenkompression bis zu 100-mal schneller arbeitet als herkömmliche Methoden. Die Erfindung sorgte laut Siemens für großes Aufsehen in der Halbleiterindustrie, denn mit ‘TestKompress’ blieben hochintegrierte Chips bezahlbar. Für Rajski ist seine Ausbildung in Mathematik und Physik in Polen bis heute die Grundlage seines Erfolgs. Rajski wird in der Kategorie ‘Lebenswerk’ ausgezeichnet.