Schwerpunkte

National Instruments

Ausblick auf die Mess- und Prüftechnik

01. Januar 1970, 01:00 Uhr   |  Stefan Kuppinger

635 Teilnehmer folgten dem Ruf von National Instruments nach Fürstenfeldbruck. Dort fand am letzte Woche der 15. Technologie- und Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2010 statt.

Am 27. und 28. Oktober veranstaltete National Instruments bereits zum 15. Mal ihren Technologie- und Anwenderkongress VIP 2010. Technologie- und Anwendervorträge, Workshops sowie eine Fachausstellung mit über 30 Produktpartnern und Systemintegratoren boten den 635 Teilnehmern ein breit gefächertes Informationsangebot. Das Programm umfasste Themen wie Mess- und Prüftechnik, Fertigungs- und Baugruppentest, RF- und Wireless-Test, Prüfstandsautomatisierung, Technisches Datenmanagement und Design&Test im Automobilbereich. Im Rahmen von 16 Workshops konnten Teilnehmer zudem praktische Erfahrungen im Umgang mit NI-Produkten sammeln.

Highlights waren die Keynotes: Zum Auftakt präsentierte Michael Dams, Director Central Europe, als Gastgeber Perspektiven, wie den aktuellen Herausforderungen am besten begegnet werden kann. Als Gastredner konnte NI Johannes Lackmann gewinnen, ehemals Präsident des Bundesverbandes Erneuerbare Energie (BEE) und Mitbegründer des Erneuerbare-Energien-Gesetzes (EEG). Er zeigte die Diskrepanz zwischen dem technologisch Machbaren und dem tatsächlich Umgesetzten auf.

Am zweiten Kongresstag gab Rahman Jamal, Technical Director Central Europe, in seiner R&D-Keynote zusammen mit John Pasquarette, Vice President Software, sowie weiteren Entwicklern und Produktmanagern einen Ausblick auf die Technologien und Lösungen, die in nächster Zeit zu erwarten sind. Für Mess- und Prüftechniker im Automatisierungsumfeld interessant sind beispielsweise Gehäuse, mit denen sich Messkarten der X-Serie als Stand-Alone-Geräte betreiben lassen. Die Anbindung erfolgt über High-Speed-USB.

Stolz ist Jamal darauf, dass NIs Vision der PXI-basierten modularen Instrumente nun nach 13 Jahren auch von Agilent als klassischen Hersteller von Messgeräte-Boxen mitgetragen wird und entsprechende PXI-Karten entwickelt hat.

Die High-Speed-Messtechnik unterstützt NI mit mehreren Technologien. Vorgestellt wurden zwei MXI-Express-RIO-Chassis sowie ein Ethernet-RIO-Chassis, die neben dem schon verfügbaren Ethercat-Chassis das Produktangebot der Erweiterungschassis mit hoher Kanalanzahl erweitern. Die auf der RIO-Technologie (rekonfigurierbare I/O) aufbauenden Chassis stellen die Vorteile FPGA-basierter Hardware und I/O-Module der C-Serie nun auch für Anwendungen bereit, die hunderte oder sogar tausende Kanäle umfassen. Zudem ermöglicht der in jedem Chassis integrierte FPGA-Chip, benutzerspezifische I/O-Timings, Inline-Signalverarbeitung und Steuerung. Weiterhin wurde gezeigt, wie sich mit der TimeSync-Technologie in Labview 2010 die internen Systemuhren von Echtzeit-Systemen synchronisieren lassen, um Ereignisse mithilfe von Programmierstrukturen wie der „Timed Loop" zu korrelieren. National Instruments nutzt dazu die Synchronisation-Algorithmen des Standards IEEE 1588.

Aber selbst Gigabit-Ethernet kommt bei bestimmten Applikationen hinsichtlich der Übertragungsbandbreite an seine Grenzen. Dazu Jamal: „Das ist der Grund, weshalb wir für High-Speed-Messtechnik nicht nur Ethernet, sondern auch den MXI-Standard verwenden." MXI (Mainframe eXtension for Instrumentation) wurde für die Anbindung unterschiedlicher Rechnerplattformen konzipiert. Das MXI-Express-RIO-Erweiterungs-Chassis mit 14 Steckplätzen, ist in der Lage, Datenraten mit 250 MByte/s und mehr problemlos zu übertragen.

In Sachen Auswertung solch großer Datenmengen führt Jamal die Software Diadem ins Feld. „Die Menge ist bei den heutigen CPU-Takten und Festplattengeschwindigkeiten kein Problem mehr, sehr wohl aber die unterschiedlichen Datenformate, die zeitsynchron miteinander zu verknüpfen sind." Jamal führt hier GPS-Postionsdaten - eingebunden in Straßenkarten -, Video-Systeme und die eigentlichen Messdaten der Sensorik an. Für ein reibungsloses Zusammenspiel wurde das Datenmanagement der seit August verfügbaren Diadem-Version 2010 verbessert und mit Features ergänzt wie die Auto-Skalierung der Y-Achse, optionale rollenbasierte Bedienoberflächen und die Suchfunktionen in ASAM ODS-Datenquellen.

Solche Verbesserungen gehen oft auf die Anregungen von Anwendern zurück, die ihre Vorschläge und Kritikpunkte direkt bei NI einbringen können. „Letztes Jahr hatten wir exakt 1263 Ideen, von denen wir insgesamt 14 in der aktuellen Version Labview 2010 umgesetzt haben, für die über 25000 Stimmen abgegeben wurden", zeigt Jamal das Potenzial des Anwenderforums „Idea Exchange" auf.

Noch vor Ende des Jahres wird der so genannte Web-UI-Builder auf den Markt kommen. Diese Software erlaubt die Erstellung und den Zugriff auf Labview-Anwendung mittels Web-Browser. Interessant auch der Ausblick auf die FPGA-Programmierung. Die Compilierung des FPGA-Codes aus den Labview-Diagrammen ist bislang rechenintensiv und - ohne geeignete Hardware - zeitaufwendig. Abhilfe schafft NI mit einer Server-Farm für die FPGA-Compilierung. „Darin eingeschlossen sind entsprechende Cloud-Services, damit Anwender sich auf ihre Applikationen konzentrieren können", so Jamal.

Am Ende seines Vortrags vergab Jamal den „Best Paper Award". Unter über 130 Themenvorschlägen wurde der Beitrag „ECHSE - Funksignale breitbandig aufzeichnen" von Ulrich Wessel, Schönhofer Sales and Engineering, mit dem „Best Paper Award" ausgezeichnet.

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