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EMVA: Young Professional Award verliehen

Im Rahmen der 17. EMVA Business Conference in Kopenhagen/Dänemark wurde der diesjährige EMVA Young Professional Award verliehen. Dr. Johannes Meyer erhielt ihn für seine Arbeit ‚Light Field Methods for the Visual Inspection of Transparent Objects‘.

EMVA Young Professional Award 2019 Dr. Meyer Bildquelle: © EMVA

Der diesjährige Gewinner des EMVA Young Professional Awards Dr. Johannes Meyer (links) mit EMVA-Präsident Jochem Herrmann.

Transparente Objekte und darin enthaltene Materialdefekte beeinflussen die Ausbreitungsrichtung von sie durchdringendem Licht. Zur Defekterkennung muss daher das komplette Lichtfeld betrachtet werden, also nicht nur der Ort, sondern auch die Ausbreitungsrichtung der Lichtstrahlen. In der Arbeit von Dr. Meyer wurde das Lichtfeldkonzept daher in die drei Hauptbestandteile eines Prüfsystems - die Beleuchtungs-, Bildaufnahme und Bildverarbeitungskomponente – integriert. Ein neu entwickeltes Sensorsystem, der Laser Deflection Scanner, ermöglicht die Erfassung hochaufgelöster Lichtfelder von transparenten Prüflingen. Mittels entsprechender Auswertealgorithmen können sämtliche Materialdefekte aus diesen Lichtfeldern in Echtzeit extrahiert werden. Außerdem wurde ein Verfahren zur inversen Lichtfeldbeleuchtung entwickelt, das sämtliche Sollstrukturen der Prüflinge unterdrückt und Defekte mit hohem Kontrast sichtbar macht. Mittels umfassender Experimente konnte gezeigt werden, dass die eingeführten Methoden dem Stand der Wissenschaft und Technik in diversen Aspekten überlegen sind.

Der EMVA Young Professional Award ist ein jährlich ausgelobter Preis, der die außergewöhnliche und innovative Arbeit Studierender oder Berufseinsteiger in der Bildverarbeitung honoriert. Ziel der European Machine Vision Association (EMVA) ist es, Innovation in der Bildverarbeitung weiter zu fördern, einen Beitrag zum Aspekt der Ausbildung in der Bildverarbeitungsdisziplin zu leisten sowie eine Brücke zwischen Forschung und Industrie zu bilden. Mit dem Preis möchte die EMVA speziell Studenten/Studentinnen dazu ermuntern, sich auf die technischen Herausforderungen der industriellen Bildverarbeitung zu fokussieren und die neuesten Forschungsergebnisse der Bildverarbeitung auf die praktischen Erfordernisse in der Industrie anzuwenden. Dr. Meyer wurde im Rahmen der 17. EMVA Business Conference in Kopenhagen/Dänemark bekanntgegeben und bekam dort die Gelegenheit, den Konferenzteilnehmern seine Arbeit vorzustellen.

Dr. Johannes Meyer(31) absolvierte von 2008 bis 2014 sein Bachelor- und Masterstudium in Informatik am Karlsruher Institut für Technologie (KIT), arbeitete danach als wissenschaftlicher Mitarbeiter in enger Kooperation zwischen dem Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (IES) des KIT und der Abteilung Sichtprüfsysteme des Fraunhofer-Instituts für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung (IOSB). Ende 2018 wurde er für seine Forschungsarbeiten durch die Informatikfakultät des KIT zum Dr.-Ing. promoviert und ist seitdem bei ITK Engineering im Themenbereich Computer Vision tätig.